掃描電鏡是對樣品表面形態進行測試的一種大型儀器。電子長筒械具發射的電子束在掃描電鏡鏡筒中，通過電磁透鏡聚焦和電場加速，入射到樣品中，束電子與樣品原子核或核外電子發生多種相互作用，而被散射，引起束電子的運動方向或能量（或兩者同時）發生變化，從而產生各種反映樣品特征的信號。這些信號包括二次電子、背散射電子、吸收電子、透射電子、俄歇電子、電子電動勢、陰極熒光、X射線等，這些信號能夠表征固體表面或內部的某些物理或化學性質。它們是各類電子束顯微分析的物理基礎。掃描電鏡可以觀察試樣的各個區域的細節。廣西日本電子掃描電鏡供應商

掃描電鏡較基本的功能是對各種固體樣品表面進行高分辨形貌觀察。大景深圖像是掃描電鏡觀察的特色，例如：生物學，植物學，地質學，冶金學等等。觀察可以是一個樣品的表面，也可以是一個切開的面，或是一個斷面。冶金學家已興奮地直接看到原始的或磨損的表面。可以很方便地研究氧化物表面，晶體的生長或腐蝕的缺陷。它一方面可更直接地檢查紙，紡織品，自然的或制備過的木頭的細微結構，生物學家可用它研究小的易碎樣品的結構。例如：花粉顆粒，硅藻和昆蟲。另一方面，它可以拍出與樣品表面相應的立體感強的照片。廣西日本電子掃描電鏡供應商掃描電鏡普遍應用于化學領域的微觀研究。

掃描電鏡主要是觀察物體的表面形貌，能夠直接觀察樣品表面的結構，也可以從各種角度對樣品進行觀察，樣品制備過程簡單。掃描電鏡有普通掃描電鏡、分析型掃描電鏡和場發射長筒械具掃描電鏡。掃描電鏡的制造是依據電子與物質的相互作用。當一束高能的人射電子轟擊物質表面時，被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區域產生的電磁輻射。同時，也可產生電子-空穴對、晶格振動(聲子)、電子振蕩(等離子體)。

掃描電鏡應用范圍：掃描電鏡是一種多功能的儀器,具有很多優越的性能,是用途較為普遍的一種儀器。三維形貌的觀察和分析;在觀察形貌的同時,進行微區的成分分析。觀察納米材料。所謂納米材料就是指組成材料的顆粒或微晶尺寸在0.1～100nm范圍內,在保持表面潔凈的條件下加壓成型而得到的固體材料。納米材料具有許多與晶態、非晶態不同的、獨特的物理化學性質。納米材料有著廣闊的發展前景,將成為未來材料研究的重點方向。掃描電鏡的一個重要特點就是具有很高的分辨率,現已普遍用于觀察納米材料。掃描電鏡在觀察形貌的同時,可以進行微區的成分分析。

掃描電鏡應用范圍：在大視場、低放大倍數下觀察樣品。用掃描電鏡觀察試樣的視場大。在掃描電鏡中,能同時觀察試樣的視場范圍F由下式來確定:F=L/M，式中F——視場范圍;M——觀察時的放大倍數;L——顯象管的熒光屏尺寸。若掃描電鏡采用30cm(12英寸)的顯象管,放大倍數15倍時,其視場范圍可達20mm。大視場、低倍數觀察樣品的形貌對有些領域是很必要的,如刑事偵察和考古。進行從高倍到低倍的連續觀察。放大倍數的可變范圍很寬,且不用經常對焦。掃描電鏡的放大倍數范圍很寬(從5到20萬倍連續可調),且一次聚焦好后即可從高倍到低倍,從低倍到高倍連續觀察,不用重新聚焦,這對進行事故分析特別方便。掃描電鏡是一種介于透射掃描電鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。廣西日本電子掃描電鏡供應商

掃描電鏡普遍應用于天文地質領域的研究。廣西日本電子掃描電鏡供應商

掃描電鏡(scanningelectronmicroscope,SEM)是一種用于高分辨率微區形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、分辨率高,成像直觀、立體感強、放大倍數范圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富,幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結構、成分和結晶學信息等優點。目前,掃描電鏡已被普遍應用于生命科學、物理學、化學、司法、地球科學、材料學以及工業生產等領域的微觀研究,但在地球科學方面就包括了結晶學、礦物學、礦床學、沉積學、地球化學、寶石學、微體古生物、天文地質、油氣地質、工程地質和構造地質等。廣西日本電子掃描電鏡供應商

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